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更新時間:2026-06-23
瀏覽次數:64簡要描述:SCHOTT 158.205 光譜校正光學組件SCHOTT 158.205為肖特設計生產的窄帶光譜校正專用光學組件,主要針對特定可見光波段光路校正場景開發,適配光刻膠成像、熒光試樣觀測、光學涂層光譜性能測試、半導體晶圓微觀檢測等對光譜波段有明確要求的光學工藝
| 品牌 | Schott/德國肖特 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
SCHOTT 158.205為肖特設計生產的窄帶光譜校正專用光學組件,主要針對特定可見光波段光路校正場景開發,適配光刻膠成像、熒光試樣觀測、光學涂層光譜性能測試、半導體晶圓微觀檢測等對光譜波段有明確要求的光學工藝,組件集成精準窄帶濾光光學片、光路平行度校正隔圈、波段限位轉接接口,能夠過濾無關雜散光譜,僅保留目標觀測波段光線穿過光路,消除寬譜光源雜波段光線對成像、光譜檢測結果帶來的干擾,是精密光譜類實驗、半導體質檢工位的專用配套配件。整套組件尺寸標準化,可直接配套SCHOTT KL系列光源光纖輸出端、各類光譜顯微設備光路接口,無需額外轉接環,裝配流程簡潔,適配存量實驗室光路改造、新建標準化光譜檢測產線。
組件核心窄帶濾光光學片采用肖特專用光學基材熔煉加工,濾光波段區間控制精準,目標波段光線透過比例穩定,區間外光譜光線阻擋效率高,不會出現雜波段光線少量穿透造成成像底色偏移、光譜數據基線抬升問題。光學片雙面多層精密鍍膜,膜層厚度均勻無局部缺失,長時間受光源持續照射不會出現膜層分層、褪色失效,光譜校正性能長期維持出廠基準水平。光學基材內部無氣泡、條紋雜質,目標波段光線穿過時散射損耗低,同等光源亮度下樣品目標波段成像照度充足,無需調高光源功率增加燈組負荷。配套平行度校正隔圈采用剛性耐高溫材質,長期受光源熱輻射不會形變彎曲,保證濾光片與光路垂直平行,避免波段偏移、邊緣光譜漏過缺陷。
組件兩端分別設計光纖標準輸入接口、光譜光路專用輸出接口,輸入接口匹配KL全系列光源光纖接頭,輸出接口適配熒光顯微鏡、光譜成像相機、晶圓檢測顯微設備專用光路,一套組件可完成寬譜光源向窄帶目標波段光路的快速轉換。接口內置定位凸臺,裝配時光纖、光路接頭僅能單一角度插入,防止裝反導致濾光片光路錯位,杜絕光譜校正失效問題。接口密封墊圈耐光照、耐有機溶劑,長期接觸乙醇、丙酮清洗溶劑不會溶脹老化,阻擋粉塵、水汽進入組件內部附著濾光片膜層,減少膜層污染頻次。
組件框架采用輕薄高強度合金材質,自重低,加裝于光纖末端不會拉扯光纖彎折變形,柔性細光纖、微型晶圓檢測設備均可穩定配套使用。框架側邊開設長條形清潔開口,無需完整拆解整套組件,即可伸入無塵棉簽擦拭濾光片透光表面,降低深度拆解頻次,減少多次拆裝造成定位凸臺磨損、濾光片偏移風險。框架外側啞光防反射涂層,不會反射環境雜散光混入目標波段光路,省去額外遮光配件,簡化光路搭建配件清單,縮減設備調試耗時。整套組件無源光學結構,無電路、供電元件,不存在電壓適配、線路故障問題,恒溫、輕微潮濕、多塵常規檢測環境均可長期穩定運行。
該組件多用于熒光生物切片觀測、光刻膠曝光前形貌成像、半導體晶圓薄膜光譜檢測、光學濾光涂層透光性能對照實驗、微量熒光材料試樣光譜表征等工藝場景,寬譜LED、鹵素光源輸出光線經過組件過濾后,僅保留實驗所需單一窄波段光線,成像畫面底色純凈,光譜檢測基線平穩,減少后期圖像降噪、光譜基線修正的數據處理工作量。組件適配的目標波段覆蓋常規可見光實驗區間,可根據試樣檢測需求搭配同系列多型號光譜組件切換波段,快速適配不同材料光譜測試需求。組件配套標準化避光收納盒,閑置時完整收納,隔絕環境光照延緩濾光膜層老化,延長組件常規使用周期。
組件配套備件包含替換密封墊圈、光譜清潔專用無塵棉簽、避光分區收納盒三類耗材,備件規格統一,采購渠道穩定,無需定制特殊尺寸配件,實驗室備件庫存管理簡便。收納盒內部獨立卡槽分隔組件、替換墊圈,避免硬質墊圈劃傷濾光片拋光膜層,閑置存放安全防護到位。多件同型號組件光譜校正參數偏差數值小,多工位同步開展對照光譜實驗時,波段過濾標準統一,各組檢測數據具備橫向對比參考價值。

| 組件型號 | SCHOTT 158.205 |
| 組件品類 | 窄帶光譜校正濾光光學組件 |
| 核心構件 | 精密窄帶濾光片、平行度校正隔圈、雙向定位接口 |
| 適配光源設備 | SCHOTT KL全系LED、鹵素冷光源主機 |
| 結構特性 | 單向定位裝配、側邊清潔開口、無源光譜校正 |
| 適配工藝 | 熒光觀測、晶圓光譜檢測、光刻膠窄帶成像 |
| 配套耗材 | 替換密封墊圈、避光收納盒、光學專用清潔棉簽 |
SCHOTT 158.205窄帶濾光片鍍膜工藝均勻,目標波段透過率穩定,帶外雜光阻擋效果平穩,長時間持續光照不會出現膜層局部損耗,光譜校正基準不會隨使用時長偏移。平行度校正隔圈剛性充足,受熱輻射無彎曲形變,濾光片始終與光路垂直平行,避免光線斜向入射造成波段偏移、邊緣漏光缺陷,保證全視野光譜過濾標準統一。單向定位接口杜絕反向裝配失誤,操作人員無需記憶裝配方向,直接對準凸臺插入即可完成正確裝配,降低人為操作失誤帶來的實驗數據偏差。
雙向通用接口兼容新舊KL光源光纖、存量光譜顯微設備,老舊光譜檢測工位改造無需更換整套光路配件,僅加裝該組件即可實現窄帶光譜過濾,改造投入成本可控,施工調試周期短。側邊長條形清潔開口覆蓋濾光片完整透光區域,棉簽伸入即可擦拭表面粉塵、熒光試樣揮發殘留污漬,無需完整拆解框架,減少多次拆裝磨損定位凸臺、濾光片位移概率。啞光合金框架隔絕環境雜散光反射,不會產生多余雜波段光線混入觀測光路,無需額外加裝遮光套筒,簡化光路搭建配件數量。
密封墊圈光照老化速度平緩,多次插拔接口后依舊保持貼合密封,粉塵、水汽難以進入腔體附著濾光膜層,拉長光學清潔維護周期。組件自重輕薄,光纖末端加裝后不會拉扯光纖保護層彎折破損,微型晶圓檢測設備、柔性細光纖光路均可穩定配套使用。整套無源光學結構無電氣故障風險,僅需定期清潔光學表面,無電路檢修、供電適配工作,長期運維工作量低,適合大批量光譜檢測工位規模化部署。
SCHOTT 158.205 光譜校正光學組件
該組件適配高校熒光生物切片對照實驗、半導體晶圓薄膜光譜質檢、光刻膠微結構窄帶成像、光學濾光涂層透光性能測試、微量熒光新材料光譜表征、第三方材料光譜檢測實驗室等場景。高校材料、生物學院可用于研究生光譜課題對照實驗,統一窄帶過濾標準,各組實驗光譜基線一致,實驗結論可橫向對比;半導體制造企業質檢工位搭配晶圓檢測顯微鏡使用,過濾無關雜波段光線,提升薄膜缺陷識別清晰度,降低人工漏檢概率;獨立檢測機構用于各類光學材料光譜測試,穩定窄帶過濾條件保障檢測報告數據重復性。
組件可搭配KL2500 LED、KL1500 HAL全系列光源主機,適配環形、單支、分叉各類光纖配件,一套組件兼容多種照明光路模式,減少實驗室光譜備件采購種類與庫存占用。組件閑置收納盒避光防護到位,長期不使用時膜層老化速度大幅放緩,延長濾光片整體使用周期。整套組件體積小巧,收納盒可放置實驗臺抽屜,不占用臺面有效操作空間,適配空間緊湊的小型光譜實驗室。